蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730

蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615

兩款新產(chǎn)品既可以實現(xiàn)高分辨高襯度成像，同時支持快速掃描擴展實現(xiàn)1分鐘內的快速三維掃描成像，并標配 ZEN navx系統(tǒng)控制軟件和基于AI的高級重構功能、智能簡便、高質高效。

全新蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 730和VersaXRM 615將帶領科研和工業(yè)檢測用戶進入快速掃描時代突破研究新的高度。

●無懼高壓的40X-Prime 物鏡探測器

√空間分辨率高至 450nm，

√30kV-160kV 全電壓下可實現(xiàn)≤500nm 的空間分辨率

√大工作距離高分辨(RaaD)表現(xiàn):

 700nm@50mm

 750nm@100mm

VersaXRM 730 系統(tǒng)可選配 40X-Prime 物鏡探測器

↓成像案例

●智能易用的系統(tǒng)控制軟件 ZEN navx

蔡司X射線顯微鏡 VersaXRM 系列采用以人為本設計的全新控制系統(tǒng)，讓操作更簡單，三維成像更高效。

√以人為本的界面與流程設計，復雜操作即刻化繁為簡，

√Smartshield 智能防撞系統(tǒng)，為實驗探索保駕護航，

√全自動的參數(shù)推薦，各不同類型樣品均可獲得高質量圖像，

√集成化的軟件功能，輕松實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集及自動化三維重構。

●基于人工智能AI的高級重構工具箱

VersaXRM 全系列標配高性能數(shù)據(jù)處理工作站及2年的DeepRecon Pro高級重構工具 License。人工智能的加持，實現(xiàn)成像質量和效率的進一步提升。

↓成像案例

●全新FAST Mode三維數(shù)據(jù)快速采集模式

基于平板擴展(FPX)和ZEN navx的新數(shù)據(jù)采集模式。

√1分鐘內完成樣品三維重構所需投影數(shù)據(jù)的采集，成像效率大大提高，

√從大視野到高分辨，實現(xiàn)快速定位及放大成像。

●新老用戶均可實現(xiàn)升級與拓展

值得一提的是，秉承蔡司x射線顯微鏡的一貫設計理念，兩款新型號的x射線顯微鏡繼續(xù)保持了可升級可拓展的特性，從而最大限度保護新老用戶的投資，確保您的設備不會落伍，以適應未來技術的不斷創(chuàng)新。

蔡司X射線顯微成像系統(tǒng)升級路線